请输入您要查找的产品名称或型号搜索  仪器仪表供应集团
返回首页加入收藏
服务电话:0755-86372600
                    021-54888367
行业信息
调查分析中国计量仪器仪表产业四大瓶颈/CMI563面铜厚度测量仪膜厚仪
添加时间:2016-3-9 15:59:09
当今信息时代,行业竞争十分激烈,若稍微放慢发展速度,就会被远远抛在后面。但国内的计量仪器仪表产业水平发展滞缓,大型和高档仪器设备几乎全部依赖进口,许多急需的专用仪器还是空白,中低档产品保证质量上还有许多难关需要攻克。科技创新及其产业化发展滞缓,是制约我国计量仪器仪表产业发展的一个瓶颈。
  中国已经成为亚洲除日本之外的第二大计量仪器仪表生产国。中国计量仪器仪表产业总的形势是向前发展的。产品在微型化、集成化、智能化、总线化等发展方向上紧跟国际发展步伐,但是不同因素还制约着计量仪器表行业发展。尚普咨询电子行业分析师指出:当前,中国计量仪器发展现状大致为种类齐全、企业规模小效率低、产品档次低。中国仪器仪表产业发展滞后,存在诸多的问题,面临严峻的形势。
  而制约中国计量仪器仪表产业发展的因素主要有三大方面:一、当今信息时代,行业竞争十分激烈,若稍微放慢发展速度,就会被远远抛在后面。但中国的计量仪器仪表产业水平发展滞缓,大型和高档仪器设备几乎全部依赖进口,许多急需的专用仪器还是空白,中低档产品保证质量上还有许多难关需要攻克。科技创新及其产业化发展滞缓,是制约中国计量仪器仪表产业发展的一个瓶颈。二、中国计量仪器虽然技术指标同国外同类产品比较差距不算很大,但稳定性和可靠性不高。极大地限制了中国计量产品的使用范围和可信程度。三、计量仪器仪表产业的发展还受到了四大客观环境的制约。一方面赋税过重;另一方面,有关部门对发展计量产品产业重要性认识不足,支持不够;三缺少支持民族产业发展的采购政策。四、中国基础产业能力差。包括产品质量,服务能力和信誉能力都较差,直接影响产业的发展。
  国内计量仪器仪表产业总的形势是向前发展的。产品在微型化、集成化、智能化、总线化等发展方向上紧跟国际发展步伐,但是不同因素还制约着计量仪器表行业发展。我国计量仪器仪表发展滞后,存在许多问题,面临严峻的形势,其主要因素集中在以下四个方面:
  一、科技创新及其产业化进展滞缓
  现代计量是光、机、电、计算机和许多种基础学科高度综合的产物,对新技术非常敏感,是现代产业产品中更新换代频率新技术应用和发展极迅速的门类之一,每年都有一批新产品推出,特别是当今信息时代,竞争日趋激烈,稍微放慢发展速度,就会被远远抛在后面。在已经跨入21世纪的今天,我国计量仪器仪表的普遍水平还停留在20世纪80年代初国际水平上,大型和高档仪器设备几乎全部依赖进口,许多急需的专用仪器设备还是空白,中低档产品保证质量上还有许多难关需要攻克。科技创新及其产业化发展滞缓,是制约我国计量仪器仪表产业发展的一个瓶颈而制约我国计量仪器仪表产业科技创新和发展滞缓的主要因素有三个:第一是科研经费严重不足;第二是人才匮乏;第三是缺乏官、产、学、研、全、用的有效结合。
  二、产品稳定性和可靠性长期得不到根本性解决
  我国计量产品,包括产业自动化仪表系统,通信仪器设备等,虽然技术指标同国外同类产品比较差距不算很大,但稳定性和可靠性不高。极大地限制了我国计量产品的使用范围和可信程度,究其原因主要有三个方面:
  (1)长期忽视了基础技术的研究的开发。
  (2)国产通用件和基础件质量不过关。
  (3)企业对产品的质量控制和管理不力,产品质量不过关。
  三、旧体制束缚了企业的发展
  旧体制是制约我国经济,特别是国有企业发展一个共性问题。仪器行业也不例外。相当一批国有企业,由于长期在旧体制的束缚下,不能从学生的历史包袱中挣脱出来,在市场竞争中丧失活力,生产和经营严重滑坡,一大批骨干企业,在生死线上苦苦挣扎,所以,加快体制的改革是发展的重要途径之一。
  四、计量仪器仪表产业的发展受到客观环境的制约其主要表现在
  (1)赋税过重。计量用产品企业,一般规模不大,生产批量不多,产值和经济效益总量不高,但是现代计量仪器仪表,对国民经济有巨大的拉动作用产生难以估量的倍增效益。对具有如此特殊属性的产业,如同其他产业一样征收17%增值税,33%所得税以及相同比例的关税则赋税过重。
  (2)各级政府包括产业的主管部门以及银行、税务、工商等部门对发展计量产品产业重要性认识不足,支持不够。
  (3)缺少支持民族产业发展的采购政策。
  (4)我国基础产业能力差。包括产品质量,服务能力和信誉能力都较差,直接影响产业的发展。
面铜测厚仪CMI563
CMI563表面铜厚测量仪膜厚仪
英国牛津仪器Oxford面铜膜厚仪CMI563
批发供应便携式面铜测厚仪CMI563
英国牛津CMI563面铜膜厚仪测厚仪
CMI563手持式PCB行业专用面铜膜厚仪
在线数显CMI563面铜测厚仪膜厚仪
检测面铜膜厚仪CMI563测厚仪
面铜膜厚仪CMI563产品介绍
CMI563面铜厚度测量仪膜厚仪

打印】 【顶部】【 返回
方源主页  |  联系我们  |  方源简介  |  公司动态  |  购买流程  |  支付方式  |  客户名录
2006© 版权所有: 深圳市方源仪器有限公司 All rights reserved 地址:深圳市南山区登良路62号南园综合楼5楼
电话:0755-86372600 86372601 021-54888367 54888372 传真:0755-86372606 Email:fyyq@vip.163.com
粤ICP备09207443号