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涂镀层测厚仪
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孔面铜膜厚仪CMI165
产品名称：孔面铜膜厚仪CMI165
产品型号：CMI165
产品品牌：

深圳市方源仪器有限公司提供世界首款带温度补偿功能的孔面铜膜厚仪CMI165，它采用先进的微电阻测试技术，符合EN14571测试标准。SRP-T1探头由四支探针组成，AB为正极CD为负极；测量时，电流由正极到负极会有微小的电阻，通过电阻值和厚度值的函数关系准确可靠得出表面铜厚，不受绝缘板层和线路板背面铜层影响。
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