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面铜厚度测试仪CMI165膜厚仪
产品名称：面铜厚度测试仪CMI165膜厚仪
产品型号：CMI165
产品品牌：

方源仪器供应的面铜厚度测试仪CMI165膜厚仪，原装英国牛津仪器品牌，美国工厂生产，采用微电阻原理测量覆铜板、高低温铜箔、PCB铜箔、蚀刻或整平后的铜箔、电镀铜后的面铜厚度。

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