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英国牛津仪器Oxford测厚仪
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检测铜箔膜厚仪测厚仪CMI95M
产品名称:检测铜箔膜厚仪测厚仪CMI95M
产品型号:CMI95M
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深圳市方源仪器有限公司提供检测铜箔膜厚仪测厚仪CMI95M,测量铜箔厚度只需1秒钟,专业运用于检测铜箔的厚度。检测铜箔膜厚仪测厚仪CMI95M因工厂调校,不需要任何标准片。它使用方便,只需将产品独有的软探针放到铜箔的表面就可以看到关于铜箔厚度的指示。
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