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膜厚仪测厚仪系列
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  • CMI系列测厚仪膜厚仪膜厚测量仪CMI250
    深圳市方源仪器总代理英国牛津仪器(Oxford)CMI系列测厚仪膜厚仪膜厚测量仪CMI250,该仪器是一款多功能的仪器,其采用的测试原理技术是涡流/磁感应双探头检测技术,。设计上也是非常巧妙,手掌大小的体积,内置却有着先进高端的检测技术。便于携带,适合于在外考察零件产品表面厚度是否达到企业的标准。
  • 英国牛津仪器Oxford膜厚仪CMI250
    英国牛津仪器(Oxford)总代理方源仪器专业供应英国牛津仪器Oxford膜厚仪CMI250。膜厚仪CMI250运用了钢铁及有色金属底材上涂层厚度的先进测量技术,基于磁感应和电涡流技术,具有统计分析功能和USB电脑接口。CMI250是一款多功能仪器,其技术基础是我们久负盛名的涡流/磁感应双探头技术。该仪器的功能包括工厂和用户双重校准、自动温度补偿、基线校正、测量存储选项、日期和时间自行设定、统计分析和USB电脑连接。
  • CMI200系列电涡流膜厚测量仪测厚仪CMI250
    CMI200系列电涡流膜厚测量仪测厚仪CMI250是一款高精密便携式测厚仪,电涡流技术测量如铝、黄铜或铜等有色金属上的非导电涂层:特富龙、搪瓷、环氧树脂、阳极氧化膜、粉末涂料、油漆等。深圳市方源仪器总代理出售。
  • 牛津仪器Oxford产品系列
    铜箔测厚仪CMI95M: 铜箔膜厚仪 英国牛津仪器Oxford铜箔膜厚仪 CMI95M铜箔测厚仪厂家 检测铜箔膜厚仪测厚仪CMI95M 测试铜箔厚度膜厚仪 铜箔厚度测定仪 深圳方源铜箔测厚仪膜厚仪 上海特供CMI95M铜箔测厚仪膜厚仪 Oxford膜厚仪CMI95M铜箔测厚仪 便携式铜箔膜厚仪CMI95M
  • 台式XRF镀层测厚仪 - X-Strata920
    深圳市方源仪器有限公司—英国牛津仪器指定中国总代理商!射线荧光分析仪X-Strata920 是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。利用X射线荧光(XRF)进行镀层厚度测量和材料分析,提高过程和质量控制。
  • 台式XRF镀层测厚仪 - MAXXI 6
    深圳市方源仪器有限公司—英国牛津仪器指定中国总代理商!台式XRF镀层测厚仪 - MAXXI 6提供高性能、快速可靠无损的镀层厚度测量及材料分析,确保产品质量的一致性和高品质。
  • 镀层测厚仪—ECO系列
    深圳市方源仪器有限公司—英国牛津仪器指定中国总代理商! Eco系列镀层测厚仪是通用的镀层厚度测试和材料分析仪器,可提供目前最高的性价比。
  • 台式XRF镀层测厚仪—MAXXI 5系列
    深圳市方源仪器有限公司—英国牛津仪器指定中国总代理商! MAXXI 5 是镀层测厚和材料分析的通用仪器,能提供目前最高的性价比。他们是既能满足最佳功能性,又能满足最高的检测精度的理想工具。

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